本发明涉及一种缩短第一细菌分析反应时间的方法，其特征在于：a）将所述第一细菌暴露于所述第一细菌允许的噬菌体颗粒的感染；b）处理该感染的第一细菌以灭活外源噬菌体颗粒；c）在一种第二细菌存在下培养该处理的细菌，第二细菌对所述噬菌体或其复制体是允许的，并且它的倍增速率大于第一细菌的有效倍增速率；以及d）评价噬菌斑形成的程度和／或在培养的第二细菌细胞中的第二细菌生长的程度。本发明的方法可用于评价一个样品中第一细菌的存在，特别是当第一细菌是一种缓慢生长细菌，尤其是结核分支杆菌时，本发明的方法可使操作者在几天内，而不是常规细菌培养技术所需的几周内，检测样品中低数量细菌的存在。本发明也可用于评价药物或其它处理对细菌或病毒的作用。本发明也提供一个用于本发明方法的诊断试剂盒。 |